SSP-ST-355-B - твердотельные лазеры с диодной накачкой
- Режим излучения: непрерывный.
- Диапазон длин волн: 355 нм.
- Выходная мощность: 100 - 500/ 500 - 1000 мВт.
- Расходимость пучка: ≤ 5,0 мрад.
- Диаметр пучка (по 1/e2): ≤ 2,0 мм.
- Коэффициент М2: ≤ 1,2.
Лазерный излучатель SSP-ST-355-В относится к типу стабильных твердотельных DPSS-лазеров с диодной накачкой. Прибор работает в непрерывном режиме, генерируя излучение с длиной волны 355 нм. Мощность излучения регулируется в пределах от 100 до 1000 мВт, что обеспечивает широкие возможности применения устройства. Параметры луча демонстрируют высокое качество генерации: расходимость не более 5,0 мрад, диаметр пучка (на уровне 1/e²) не превышает 2,0 мм, параметр качества M² не хуже 1,2. Устройство оснащено системой водяного охлаждения WCH-580, что обеспечивает эффективное теплоотведение. Электропитание осуществляется от источника постоянного тока с параметрами 24 В при токе 13 А. Доступны блоки питания PSU-24 и PSU-24-C. Условия эксплуатации допускают работу устройства при температуре окружающей среды от +10 до +35 °C, а время прогрева не превышает 10 минут.
Особенности:
- Компактный дизайн корпуса.
- Простота эксплуатации.
- Высокая выходная оптическая мощность.
- Стабильная работа.
- Система водяного охлаждения, обеспечивающая длительный срок службы.
| Параметр |
Значение |
Единица измерения | |
|---|---|---|---|
|
Длина волны
|
355 ± 1 | нм | |
|
Выходная мощность
|
100 – 500 | 500 - 1000 | мВт |
|
Поперечный модовый состав
|
TEM00 |
|
|
|
Рабочий режим
|
Непрерывный |
|
|
|
Стабильность мощности
(rms, после 4 часов) |
≤ 5, ≤ 3, ≤ 2 | % | |
|
Коэффициент М2
|
≤ 1,1 | ≤ 1,2 |
|
|
Расходимость пучка, полный угол
|
≤ 5 | мрад | |
|
Диаметр пучка на выходе
|
≤ 2,0 | мм | |
|
Метод охлаждения
|
система водяного охлаждения WCH-580 |
|
|
|
Высота пучка от основания
|
90 | мм | |
|
Коэффициент поляризации
|
≥ 100:1, горизонтальная |
|
|
|
Рабочая температура
|
от 10 до 35 | °C | |
|
Время прогрева
|
≤ 10 | мин | |
|
Напряжение питания (DC 24В/ 13A)
|
PSU-24 / PSU-24-C |
|
|
- Проточная цитометрия.
- Спектральный анализ.
- Микроскопия.
- Контроль полупроводников.
- Сортировка клеток.
- Оптические устройства и системы.
- Научные эксперименты.
