ГлавнаяКаталогНепрерывные лазерыТвердотельные лазеры с диодной накачкой (DPSS)DPSS лазеры зеленого диапазона, 500 - 560 нмSSP-LN-532-F - твердотельные лазеры с диодной накачкой и низким уровнем шумов
SSP-LN-532-F - твердотельные лазеры с диодной накачкой и низким уровнем шумов
Твердотельные лазеры с диодной накачкой и низким уровнем шума модели SSP-LN-532-F.
- Длина волны излучения: 532 нм.
- Минимальная выходная мощность: 1,5 Вт.
- Максимальная выходная мощность: 2,5 Вт.
- Расходимость пучка, полный угол: ≤ 1,2 мрад.
- Низкий уровень амплитудных шумов: ≤ 1%.
Модель твердотельных лазеров с диодной накачкой и низким уровнем шумов SSP-LN-532-F отличаются компактными размерами, длительным сроком службы и простотой эксплуатации. Лазеры работают в непрерывном режиме. Поставляется в комплекте с блоком питания PSU-H-LED / PSU-H-FDA / PSU-H-OEM.
Особенности:
- Компактный дизайн корпуса.
- Простота эксплуатации.
- Высокая мощность.
- Высокая стабильность.
| Параметр | Значение | Единица измерения | |
|---|---|---|---|
| Длина волны | 532 ± 1 | нм | |
| Режим работы | CW | - | |
| Выходная мощность |
1,5 - 2,5 |
1,5 |
Вт |
| Стабильность мощности (rms, после 4 часов) |
≤ 3, ≤ 2, ≤ 1 (опционально) |
% | |
| Поперечный модовый состав | TEM00 | - | |
| Ширина спектральной линии |
≤ 0,1 |
≤ 0,003 |
нм |
|
Амплитудные шумы (rms, 1 Гц - 20 МГц) |
≤ 1 |
% | |
| Коэффициент M2 | ≤ 1,1 | - | |
| Диаметр пучка на выходе | ≤ 1,2 | мм | |
| Расходимость пучка, полный угол |
≤ 1,2 |
мрад | |
| Степень поляризации |
≥ 100:1, горизонтальная (вертикальная опционально) |
- | |
| Амплитудные шумы (rms, 1 Гц - 20 МГц) | ≤ 1, ≤ 0,5 |
≤ 0,5 |
% |
| Время прогрева |
≤ 10 |
мин | |
|
Стабильность направления пучка после прогрева |
≤ 0,05 |
мрад | |
| Высота пучка от основания корпуса | 45 | мм | |
| Рабочий диапазон температур | 10 - 35 | °C | |
| Варианты блоков питания | PSU-H-LED, PSU-H-FDA, PSU-H-OEM | - | |
| Модуляция |
TTL, 1 Гц-1 кГц, 1 кГц-10 кГц, 10 кГц-30 кГц и другие варианты аналоговой модуляции |
- | |
|
Время жизни |
≥ 10000 | ч | |
- Проточная цитометрия.
- Спектральный анализ.
- Микроскопия.
- Контроль полупроводников.
- Сортировка клеток.
- Оптические устройства и системы.
- Научные эксперименты.









