CLM-S - анализаторы оптических компонентов

CLM-S - новейшая система для анализа оптических компонент и устройств. Оборудование проводит измерения с высоким разрешением, динамическим диапазоном и скоростью измерений.
  • Встроенный перестраиваемый источник излучения.
  • Возможность выбора диапазона измерений.
  • O-, C-диапазоны длин волн.
  • Спектральное разрешение источника 5 пм.
  • Дистанция измерения световода 100 м.
Производитель:  TEMSENS

CLM-S использует источники света с линейной разверткой в сочетании с технологией когерентного детектирования для измерения матрицы Джонса тестируемого устройства с получением двумерной кривой спектрально-тестовых параметров. Тестируемые параметры включают в себя вносимые потери, а так же возможность расширенных измерений (опционально): дисперсии, задержки, потерь, связанных с поляризацией, и поляризационной модовой дисперсии. Кроме того, прибор оснащен перестраиваемым источником излучения для вторичного анализа. 


Газовая ячейка HCN


Ключевые особенности:

  • Спектральное разрешение источника 5 пм.
  • Динамический диапазон 60 дБ.
  • Встроенный перестраиваемый источник излучения.
  • Измерение IL и опционально PDL, PMD, CD, GD.
  • Дистанция измерения световода 100 м.

Параметр Значение
Ед. Измерения
Перестраиваемый источник
Длины волн1 1525 - 1565 1290 - 1330 нм
Разрешение источника 5 пм
Мощность источника2 1 мВ
Скорость сканирования 10 - 100 нм/с
Частота подавления боковой моды 60 нм/с
Коэффициент экстинкции 15 дБ
IL
Длины волн1 1525 - 1565 1290 - 1330 нм
Длина участка измерения3 100 м
Разрешение по длине волны 1,6 пм
Погрешность длины волны ± 1,0 пм
Погрешность измерения потерь ± 0,1
дБ
Динамический диапазон 60 дБ
Разрешение ± 0,05 дБ
Параметры оборудования
Потребляемая мощность 60 Вт
Разъём подключения  USB  
Тип коннектора FC/APC  
Габариты 340 х 370 х 150 мм
Вес < 10
кг
Температура хранения 0 - 50 °C
Рабочая температура 1 - 40 °C
Рабочая влажность 10 - 90 %

1. Диапазон длин волн 1525 нм ~ 1565 нм или 1290 нм ~ 1330 нм на выбор.

2. Стандартная версия имеет мощность 1 мВт и может быть увеличена до 2 мВт / 5 мВт.

3. В стандартной версии можно тестировать IL, а в расширенной - CD, GD, PDL и PMD.

  • Тестирование планарных волноводных устройств.
  • Кремниевая фотоника и оптоволоконные устройства.
  • Тестирование усилителей и фильтров.

Модель Описание
CLM-S-С Анализатор оптических компонентов, С-диапазон
CLM-S-O Анализатор оптических компонентов, О-диапазон
Extended functions Опция расширенных измерений: GD, CD, PDL или PMD
Назад к разделу

Мой заказ