ГлавнаяКаталогИмпульсные лазерыПикосекундные импульсные лазерыПерестраиваемые пикосекундные лазерыParaOPO-LIR-ps - перестраиваемый пикосекундный лазер длинноволнового ИК-диапазона
ParaOPO-LIR-ps - перестраиваемый пикосекундный лазер длинноволнового ИК-диапазона
ParaOPO‑LIR‑ps – оптический параметрический генератор.
- Высокая частота повторения импульсов.
- Выходная мощность от 12 мВт.
- Полностью автоматическая перестройка длины волны.
- Длительность импульса до 6 пс.
- Линейная поляризация выходного излучения.
- Высокая стабильность выходных параметров.
Производитель: YSL PHOTONICS
Оптический параметрический генератор ParaOPO‑LIR‑ps от компании YSL Photonics генерирует автоматически перестраиваемое пикосекундное лазерное излучение в диапазоне 1,4 – 17 мкм. Он отличается широким диапазоном перестройки, высокой стабильностью, возможностью заказной настройки спектральной ширины и высоким качеством пучка. Выходная длина волны может быть расширена в сторону более коротковолнового видимого и ближнего ИК‑диапазона. Данный генератор является гибким перестраиваемым лазерным источником для анализа состава материалов, спектроскопии суммовой частоты, микроспектроскопии, наноспектроскопии (включая s‑SNOM‑визуализацию и AFM‑IR‑визуализацию).
Особенности:- Высокая частота повторения импульсов – более 50 МГц.
- Выходная мощность от 12 мВт.
- Полностью автоматическая перестройка длины волны.
- Длительность импульса до 6 пс.
- Линейная поляризация выходного излучения.
- Высокая стабильность выходных параметров.
| Параметр | ParaOPO‑MIR‑ps | Ед. измерения |
|---|---|---|
| Диапазон перестройки длины волны |
1,4–11 и 1,4–17 |
мкм |
| Способ перестройки | Полностью автоматический | |
| Частота повторения | > 50 | МГц |
| Выходная мощность | > 12 | мВт |
| Длительность импульса | 6 (типичное значение, возможна кастомизация) | пс |
| Спектральная ширина | ~ 6 (типичное значение, возможна кастомизация) | см⁻¹ |
| Качество пучка @1,6 мкм | M² < 1,3 |
|
| Поляризация | Линейная | |
| Габаритные размеры (Д×Ш×В) | 870 × 662 × 179,1 | мм³ |
- Анализ (определение) состава материалов.
- Спектроскопия суммовой частоты (SFG).
- Микроспектроскопия (спектроскопические измерения с микроскопией).
- Наноспектроскопия (например, визуализация методом s‑SNOM, AFM‑IR‑визуализация).
Мой заказ