ГлавнаяКаталогПозиционеры. Трансляторы. Юстировка волокон и ФИСПьезоэлектрические позиционерыПьезоэлектрические держатели оптикиPOM100 - пьезоэлектрические позиционеры объектива
POM100 - пьезоэлектрические позиционеры объектива
POM100 - серия пьезоэлектрических позиционеров объектива.
- Диапазон перемещения: до 100 мкм.
- Нагрузка: 200 г / 500 г.
- Разрешение: 3 нм / 2 нм.
- Материал корпуса: нержавеющая сталь.
- Работа в замкнутом контуре.
Производитель: LBTEK
POM100 - серия пьезоэлектрических позиционеров объектива для точной фокусировки и высокоскоростного Z-сканирования. Устройства совместимы со стандартными микроскопами и компонентами DIY-микроскопии. Позиционеры обходят медленные шаговые двигатели, интегрированные в микроскопы, обеспечивая 3D-сканирование с миллисекундным временем отклика.
В замкнутом контуре используются датчики SGS, обеспечивающие высокую линейность и повторяемость позиционирования. Доступны две модели: POM100 (нагрузка 200 г, разрешение 3 нм) и POM100H (нагрузка 500 г, разрешение 2 нм, улучшенная линейность и повторяемость). Позиционеры оснащены сетевым портом (RJ45) для управления.
| Параметр |
Значение |
Ед. измерения | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Модель | POM100 | POM100H | |||||||
| Ось перемещения |
Z |
||||||||
| Материал |
Сталь |
||||||||
| Максимальная нагрузка | 200 | 500 | г | ||||||
| Диапазон перемещения (стандартный, 0-120 В) |
80 ±10% |
мкм | |||||||
|
Диапазон перемещения (макс., 0-150 В) |
100 ±10% |
мкм | |||||||
| Разрешение | 3 | 2 | нм | ||||||
| Датчик |
SGS |
||||||||
| Линейность (замкнутый контур) | 0,1 | 0,03 | % | ||||||
| Повторяемость позиционирования (замкнутый контур) | 0,05 | 0,02 | % | ||||||
| Жёсткость по направлению движения | 1,4 ±20% | 0,8 ±20% | Н/мкм | ||||||
| Резонансная частота | 350 ±20% | 800 ±20% | Гц | ||||||
| Частота среза (-3 дБ, замкнутый контур) | 70 ±20% (нагрузка 100 г) | 160 ±20% (без нагрузки) | Гц | ||||||
| Время пошагового отклика | 10 ±20% (без нагрузки) | 5 ±20% (замкнутый контур) | мс | ||||||
| Вес | 150 | 500 | г | ||||||
| Рабочая температура |
-20 … +80 |
°C | |||||||
| Апертура (отверстие) |
15 |
мм | |||||||
- Томография (Z-сканирование).
- Точная фокусировка микроскопов.
- 3D-визуализация.
- Конфокальная микроскопия.
- Метрология.
- Позиционирование объектива в научных установках.







