ГлавнаяКаталогСпектральные системы и комплексыРамановские спектральные системы комбинационного рассеянияMic-R-Sys405/ 532/ 785 - конфокальная рамановская система начального уровня
Mic-R-Sys405/ 532/ 785 - конфокальная рамановская система начального уровня
Модульная система для измерения спектров комбинационного рассеяния в микро-масштабе.
- Длина волны лазера: 405 / 532 / 785 нм на выбор.
- Платформа 210 x 140 мм с регулировкой в XY плоскости.
- Камера для контроля образца.
- Разрешение от 24 до 5 см-1.
Mic-R-Sys405/ 532/ 785 – конфокальная рамановская система с визуализацией позиционирования образца. Система построена на базе микроскопа и спектрометра, объединенного с лазерным источником. Все компоненты системы откалиброваны и оптимизированы для работы in situ с высокой точностью.
Ключевые особенности:
- Возможность регулировки мощности лазера.
- Отсутствие дрейфа длны волны, стабилизированная частота лазеров.
- Совмещенные фокальная плоскость лазера и фокальная плоскость объектива.
- Высокостабильный детектор для обеспечения высокой точности спектральных данных.
- Удобная модульная конструкция, простота в эксплуатации, удобство переноски.
- Возможность настройки и выбора диапазона длин волн и разрешения.
| Параметр | Значение | Ед. изм. | ||
| Микроскоп | ||||
| Модель микроскопа |
GMM-580 |
|||
| Система фокусировки по оси Z | Грубая и точная коаксиальная фокусировка, градуировка 2 мкм, наличие ограничителя | |||
| Размер XY платформы | 210 * 140 | мм2 | ||
| Диапазон перемещения XY платформы | 50 * 75 | мм2 | ||
| Камера | ISH500, 5 Мп | |||
| Объектив микроскопа | 5X-100X (на выбор) | |||
| Камера | ||||
| Чип | CMOS, цветная, прогрессивная развертка | |||
| Формат | 1/2,5" | |||
| Разрешение | 5 | Мп | ||
| Размер пикселя | 2,2 * 2,2 | мкм2 | ||
| Количество пикселей | 2592 * 1944 | |||
| Частота кадров | 5 при разрешении 2592 × 1944; 21 при разрешении 1280*960 | fps | ||
| 25 кадров в секунду (1024 × 768); 38 кадров в секунду (640 × 480) | fps | |||
| Частота дискретизации | 24 | бит | ||
| Шум амплитуды | 54 | дБ | ||
| Рабочая температура (°С) | От 0 до 60 | °C | ||
| Интерфейс передачи данных | Высокоскоростной USB2.0 | |||
| Крепление объектива | C-Mount | |||
| Лазер | ||||
| Длина волны | 405±0.5 | 532±0.5 | 785±0.3 | нм |
| Мода | Одиночная | Одиночная | Одиночная | |
| Ширина спектральной линии | - | <0,5 | <2 | см-1 |
| Выходная мощность | 1-500 | 1-1000 | >350, >450 | мВт |
| Стабильность мощности (пк-пк, 4 часа) | <2 | <1,<3,<5 | <2 | % |
| Параметры волокна | 100 мкм @ 0.22NA | 100 мкм @ 0.22NA | 100 мкм @ 0.22NA | |
| Шум амплитуды (среднеквадратичное значение) | - | <0,5 | <0,5, <1 | % |
| Режим работы | CW | CW | CW | |
| Время прогрева | <5 | <10 | <5 | минут |
| Рабочая температура (℃) | От 10 до 35 | От 10 до 35 | От 10 до 40 | °C |
| Ожидаемый срок службы (часы) | 10000 | 10000 | 10000 | часов |
| Гарантия | 1 | 1 | 1 | год |
| Спектрометр | ||||
| Диапазон длин волн | 405–500 | 532–700 | 785-1100 | нм |
| Оптическое разрешение | 18 – 24 | 8 – 12 | 5 – 8 | см-1 |
| Разрешение сенсора | 2048 | пикселей | ||
| Размер пикселей | 14 * 14 | мкм2 | ||
| Размеры (мм) | 149*109*50 | мм3 | ||
| Вес (г) | 1000 | г | ||
| Соотношение сигнал шум | 1000:1 | |||
| Время интеграции | 17 мс-10 с | |||
| Потребляемая мощность | 450 мА при 5 В постоянного тока | |||
| Время одного сканирования | 4 | мс | ||
| Входы/выходы | 5 / 5 | |||
| Аналоговые каналы | 1 / 1 | |||
| Соединитель | 30-pin | |||
| Рамановский зонд | ||||
| Длина волны возбуждения (нм) | 405 | 532 | 785 | нм |
| Фокусное расстояние | 7,5 | мм | ||
| Основные материалы зонда | 2A12, нержавеющая сталь | |||
| Конфигурация волокон | Два отдельных волокна (волокно канала возбуждения 100 мкм, волокно 200 мкм для сбора света); NA=0,22, оболочка PVC/металлическая; длина 1 м | |||
| Программное обеспечение | ||||
| Анализ оптического спектра | Spectral Analysis / Raman Analysis 2.0 | |||
| Изображение камеры | Imaging | |||
| Операционная система | Windows XP/Win7 (32- или 64-разрядная версия) | |||
- Анализ наноматериалов, двухмерных материалов (графен, нанотрубки).
- Электротехническая промышленность (анализ батарей, кристаллических пластин и т.д.).
- Биомедицина и химическая промышленность (исследование тканей, клеток, раковых образований, результатов применения лекарственных препаратов).
- Анализ пищевых продуктов.
- Анализ произведений искусства.
- Идентификация наркотических и взрывчатых веществ.
Система собирается под заказ. Для получения коммерческого предложения на систему предлагаем выбрать:
- Объектив: 40-кратный с рабочим расстоянием 0,63 мм, 40-кратный с увеличенным рабочим расстоянием, 10-кратный, 20-кратный, 50-кратный, 100-кратный.
- Лазер (можно выбрать до 3 лазеров): free-space 532 нм, ffree-space 405 нм, free-space 785 нм, импульсный лазер 405 нм, лазер с волоконным выводом 785 нм.
Мой заказ