ГлавнаяКаталогОптическое измерительное оборудованиеСистемы для анализа поверхностейFTMD-T050 - измеритель толщины тонких пленок
FTMD-T050 - измеритель толщины тонких пленок
- Диапазон длин волн 400-850 нм.
- Толщина измерения 50 нм-100 мкм.
- Разрешение 0,01 нм.
- Количество слоев до 10.
Преимущества:
- Световые волны. Различные длины волн проникают в слой измеряемой пленки, разность фаз между светом, отраженным от верхней и нижней поверхностей, усиливается или ослабевает
- Конструктивная суперпозиция. Возникает, когда разность фаз является целым кратным длины волны, что приводит к максимальной отражательной способности.
- Деструктивная суперпозиция. Происходит, когда разность фаз составляет половину длины волны, что приводит к минимальной отражательной способности.
- Суперпозиция целых и половинных длин волн. Создает отражательную способность, находящуюся между максимальным и минимальным значениями.
- Толщина. Определяется путем анализа интерференционной картины.
|
Параметр
|
Значение | Ед. измерения |
|---|---|---|
|
Диапазон длин волн
|
480 - 850 | нм |
|
Толщина измерения
|
50 нм -100 мкм | |
|
Разрешение
|
0,01 | нм |
|
Точность
|
0,2% &1нм |
|
|
Повторяемость
|
0,1 | нм |
|
Стабильность
|
0,05 | нм |
|
Угол падения
|
90° |
|
|
Количество слоев
|
10 |
|
|
Определение коэффициента преломления
|
доступно |
|
| Режим измерения* | онлайн/офлайн | |
|
Измеряемые материалы
|
прозрачный или полупрозрачный материалы |
|
|
Способ измерения
|
принцип отражения |
|
|
Обнаружение грубых материалов
|
доступно |
|
| Рабочее расстояние | стандартно 1,5-3, макс:50 (опционально) | мм |
| Размер пятна | 100, 200, 400 | м |
- Полупроводники.
- Презиционная оптика.
- ЖК-дисплеи.
- Новая энергия / Фотоэлектричество.
- Медицина.
- Фрезы.
- Технологические пленки.
- Полимеры.
- ITO.
- Перовскит.
- Квантовые точки.
- Пленки.
- Диоксид кремния.
- Склеивание стекла.
- Микрофлюидика.
- Фоторезист.
- PI пленка.
Мой заказ