ГлавнаяКаталогСварка и обработка волокна. Производство компонентовОборудование для анализа и тестирования оптических волоконМикроскопы для оптических волокон и коннекторов
Микроскопы для оптических волокон и коннекторов
SSP-IV - микроскопы для анализа торцевых поверхностей волокна
Ручная фокусировка. Высокое разрешение Возможность анализа волоконных коннекторов и трансиверов. Увеличение 200X / 400X. Высокоточный XY позиционер.
FA-1 - системы проверки торцевой поверхности массивов оптических волокон
Различные типы держателей массивов волокна. Возможность анализа до 128-волоконных массивов. Увеличение 200X / 400X. Высокоточный XYZ позиционер.
Проверка торцевых поверхностей оптического волокна и коннекторов осуществляется для обеспечения высокого качества волоконно-оптических соединений. Дефекты на торцах волокна могут привести к увеличению вносимых потерь и ухудшению качества работы ВОЛС.
В процессе подготовки и инспектирования ОВ используются специальные инструменты, позволяющие оценить качество сколотых или полированных оптических волокон, а также проверить соответствие торцевого сечения стандартам и спецификациям.
К функциям систем проверки торцевой поверхности относятся:
- Визуализация поверхности с многократным увеличением для обнаружения даже малейших дефектов, пыль, грязи, сколов, царапин и т.д.
- Автоматический анализ с помощью ПО, позволяющий системе автоматически фокусироваться и центрироваться на изображении, находить дефекты и контролировать измерения в реальном времени.
- Создание системой отчетов о проведенных тестах для документации и анализа.
В онлайн-каталоге представлена линейка устройств для проверки торцевой поверхности волокна:
- SSP-IV - микроскопы для анализа торцов оптических волокон с возможностью регулировки по осям X и Y, ручной фокусировкой, увеличением до 400X, высоким разрешением и функцией вывода и сохранения изображений. Подходит для тестирования модулей трансиверов (SFP, QSFP, TOSA, ROSA, BOSA), а также оптических коннекторов FC, SC, LC, MU, SMA, MPO/MTP, MT-RJ и других.
- FA-1 – системы для проверки торцевой поверхности массивов оптических волокон, оснащенные XYZ позиционером и обладающие высоким разрешением. Предназначены для анализа волоконных массивов с количеством волокон от 4 до 128 и измерения торцов PLC.
Специалисты компании «Специальные Системы. Фотоника» готовы помочь с подбором оптимальной модели для Ваших задач. Чтобы получить консультацию или оформить заказ, пожалуйста, свяжитесь с нами.
Фильтр
Мой заказ