SSP-IV - микроскопы для анализа торцевых поверхностей волокна

SSP-IV - серия микроскопов для анализа торцевых поверхностей оптического волокна.
  • Увеличение 200X / 400X.
  • Ручная фокусировка.
  • Высокое разрешение.
  • Возможность регулировки по осям X и Y.
  • Функция вывода и сохранения изображений.

Микроскопы SSP-IV - это универсальные инструменты для анализа торцов оптических волокон, включая трансиверы SFP и QSFP, модули TOSA, ROSA и BOSA, а также коннекторы FC, SC, LC и другие.

Компактный и удобный корпус устройства, а также отсутствие лишних кабелей между микроскопом и монитором, позволяют повысить эффективность работы и оптимизировать рабочее пространство. В серию SSP-IV входят модели, адаптированные для различных задач. Они оснащены функциями фотосъемки, тестирования трансиверов, а также возможностью настройки по осям X и Y, а также другими полезными опциями.

Особенности:
  • Интегрированный дизайн, обеспечивающий компактность и удобство использования.
  • Превосходное качество изображения.
  • Пылезащита, улучшающая надежность и долговечность.
  • Возможность сохранения изображений (опционально).
  • Прецизионный керамический адаптер для максимальной точности.
  • Безопасность и эргономичность для комфортной работы.
  • Функция вывода изображения для удобства просмотра результатов.

Параметр Значение Ед. измерения
Модель
SSP-IV-400C SSP-IV-400C  SSP-IV-400C
SSP-IV-400C  SSP-IV-400C  SSP-IV-200BM SSP-IV-400D
 
Увеличение
400X
200X
200X
400X
400X
200X
400X
 
Регулировка по осям X/Y
есть есть
есть
нет нет нет есть  
Конфигурация
FC/SC/LC/MU
MPO/MTP
female
FC/SC/LC/MU
MPO/MTP
female
Трансиверы,
адаптеры
FC/SC/LC/MU
FC/SC/LC/MU
Трансиверы,
адаптеры
FC/SC/LC/MU
MPO/MTP
male/female
 
Формат изображения
Смоделированный PAL  
Разрешение ПЗС
1/3" 625 строк
 
Порт вывода изображения
RCA
 
Порт ввода изображения
RCA
 
Режим фокусировки 
Ручной
 
Мощность
3 Вт
Рабочая температура
+10 - +50 °C
Температура хранения
0 - +55 °C
Дисплей
8" TFT 1024x768 пикселей
 
Напряжение питания
12
В пост. тока
Габариты
260x230x158
мм
Вес
1,5 кг

  • Анализ торцевых поверхностей приемопередатчиков: SFP, QSFP.
  • Тестирование модулей TOSA, ROSA, BOSA.
  • Проверка оптических коннекторов: FC, SC, LC, MU, SMA, MPO/MTP, MT-RJ и др.

Модель Описание
SSP-IV-400C Микроскоп для анализа торцевых поверхностей волокна. Увеличение 400X. Регулировка по осям X и Y. Возможность тестирования FC/SC/LC/MU MPO/MTP (female).
SSP-IV-200C Микроскоп для анализа торцевых поверхностей волокна. Увеличение 200X. Регулировка по осям X и Y. Возможность тестирования FC/SC/LC/MU MPO/MTP (female).
SSP-IV-200M Микроскоп для анализа торцевых поверхностей волокна. Увеличение 200X. Регулировка по осям X и Y. Возможность тестирования трансиверов и адаптеров.
SSP-IV-400BC Микроскоп для анализа торцевых поверхностей волокна. Увеличение 400X. Возможность тестирования FC/SC/LC/MU.
SSP-IV-200BC Микроскоп для анализа торцевых поверхностей волокна. Увеличение 200X. Возможность тестирования FC/SC/LC/MU.
SSP-IV-200BM Микроскоп для анализа торцевых поверхностей волокна. Увеличение 200X. Возможность тестирования трансиверов и адаптеров.
SSP-IV-400D Микроскоп для анализа торцевых поверхностей волокна. Увеличение 400X. Регулировка по осям X и Y. Возможность тестирования FC/SC/LC/MU MPO/MTP (male/female).
Назад к разделу

Мой заказ