SSP-ILRL-SB - двухканальный анализатор вносимых и обратных потерь и полярности

SSP-ILRL-SB – многоканальная система для автоматизированного тестирования SN-MT, Shuffle-MPO и других многоволоконных компонентов со сложной маршрутизацией волокон.
  • Конфигурации на 72, 144, 288 или 576 каналов.
  • Поддержка одномодовых и многомодовых компонентов.
  • Измерение вносимых и обратных потерь с возможностью определения полярности и маршрутизации волокон.
  • Доступно исполнение с прецизионной электромеханической платформой.

SSP-ILRL-SB – автоматизированная многоканальная система для измерения вносимых потерь, обратных потерь, полярности и маршрутизации многоволоконных изделий со сложной внутренней схемой соединений. Система включает прецизионную оптическую платформу, систему анализа изображения, фотоприёмник большой площади и механизм автоматизированного перемещения.

Основные объекты контроля – SN-MT, Shuffle-MPO и другие сложные многоволоконные MPO-компоненты.

Особенности:
  • Объединение функций IL, RL и контроля полярности.
  • Двухволновое измерение IL/RL менее 1 с.
  • Автоматическое измерение IL/RL и полярности двухволоконного изделия примерно за 2 с.
  • Повторяемость измерения IL ±0,01 дБ / 15 мин.
  • Поддержка цепного режима.
  • Специализированный интерфейс для Uni-boot, CS, SN, MDC, duplex LC и других двухволоконных изделий.
  • Интегрирующий фотоприёмник для FC, SC, LC, ST, MPO, MT и других соединителей.
  • Возможность расширения интерфейсом RS485 для каскадирования оборудования.

Параметр Значение Ед. Измерения
Максимальное количество каналов
до 576 -
Варианты каналов
72 / 144 / 288 / 576 -
Поддерживаемые MT
MT12, MT14, MT16, MT24, MT32, MT36, MT48 -
Поддерживаемое одномодовое волокно
9/125 -
Поддерживаемое многомодовое волокно
50/125 или 62,5/125 -
Базовые длины волн SM
1310, 1550 нм
 Расширенная SM-конфигурация
1310, 1490, 1550, 1625 нм
Длины волн MM
850, 1300 нм
Типы фотоприемников
фотодиод; интегрирующая сфера; внешний фотодиод; внешняя интегрирующая сфера -
Время двухволонового измерения IL/RL
≤ 1 с
Метод определения RL
без намотки волокна, принцип OTDR -
Определение полярности
анализ изображения -
Определение маршрутизации
анализ изображения -
Импорт схем маршрутизации
поддерживается -
Электромеханическая платформа
доступна -
Интерфейсы удаленного управления
RS232 / USB -
Программный интерфейс
API -
Вторичная разработка
DLL -
Форматы хранения данных
Excel, PDF, SQL, удалённый сервер -

  • Тестирование SN-MT.
  • Тестирование Shuffle-MPO.
  • Многоволоконные MPO-компоненты.
  • Тестирование изделий со сложной маршрутизацией волокон.
  • Автоматизированный производственный контроль.

SSP-ILRL-SB
X
XX
XXX
C
Функция
A
Только измерение
IL/RL
B
С определением
полярности
M
С прецизионной
электромеханической
платформой
Поддержка каналов
72
72 канала
144
144 канала
288
288 каналов
576
576 каналов
Тип волокна и длины волн
SM0
9/125, 1310 и 1550 нм
MM1
50/125, 850 и 1300 нм
MM2
62,5/125, 850 и 1300 нм
SM4
9/125, 1310, 1490,
1550 и 1625 нм
Тип фотоприёмника
1
PD
2
Внешняя интегрирующая
сфера
3
Внешний фотодетектор
4
Внешний фотодетектор и
интегрирующая сфера
Модель Описание Наличие
SSP-ILRL-SB-X-XX-XXX-C Двухканальный анализатор вносимых и обратных потерь и полярности. Требуется уточнить параметры для заказа. Под заказ
Назад к разделу

Мой заказ