CLM-O - оптический OFDR рефлектометр высокого разрешения
- Рабочие длины волн: O-диапазон.
- Пространственное разрешение до 10 мкм.
- Длина участка измерения до 100 м.
- Функция самокалибровки.
- Возможность модификации по запросу.
В CLM используется технология OFDR (Optical Frequency Domain Reflectometer), которая предполагает детектирование обратно рассеянных сигналов внутри устройства и использование когерентных методов детектирования для обработки сигнала с целью получения графика зависимости расстояния от отражения. Рефлектометр обеспечивает чрезвычайно высокое пространственное разрешение, что позволяет легко идентифицировать отклонения внутри оптических устройств, оптических модулей, кремниевых фотонных чипов и т.д. Кроме того, с его помощью можно измерять такие параметры, как возвратные потери, вносимые потери и спектр излучения.
Функционал рефлектометров серии CLM может быть расширен за счет включения в него возможностей зондирования оптического волокна, что делает его пригодным для распределенных измерений деформации и температуры.
|
|
| Массив волоконно-оптических решеток |
Кремниевый фотонный чип |
Ключевые особенности устройства:
- Перестраиваемый лазер, работающий в О-диапазоне.
- Длина участка измерения до 100 м.
- Пространственное разрешение до 10 мкм.
- Чувствительность -130 дБ.
- Динамический диапазон (RL) 80 дБ.
- Динамический диапазон (IL) 18 дБ.
- Отсутствие мертвой зоны.
| Параметр | Значение |
Ед. Измерения |
|
|---|---|---|---|
| Диапазон длин волн | 1265 - 1340 | нм | |
| Длина участка измерения 1 | 50 | 100 |
м |
| Пространственное разрешение | 10 | 20 | мкм |
| Время измерения 2 | < 8 |
<12 |
с |
| Динамический диапазон (RL) |
80 |
дБ |
|
| Динамический диапазон (IL) | 18 |
дБ |
|
| Разрешение (IL/RL) | 0,05 |
дБ |
|
| Погрешность измерений (IL/RL) | ± 0,1 | дБ | |
| Чувствительность | -130 | дБ | |
| Мертвая зона | нет | ||
| Спектральные характеристики | |||
| Точность длины волны | ± 1,0 | пм | |
| Точность групповой задержки | 1,0 | пс | |
| Разрешение длины волны | 0,015 | пм | |
| Характеристики оборудования | |||
| Входное напряжение |
AC 220/110V, DC 12V |
||
| Потребляемая мощность | 60 | Вт | |
| Разъём подключения | USB | ||
| Тип коннектора | FC/APC | ||
| Габариты | 330 x 350 x 160 | мм | |
| Вес | 7,5 | кг | |
| Рабочая температура | 10 - 40 | °C | |
| Температура хранения | 0 - 50 | °C | |
| Рабочая влажность | < 90 |
% |
|
1. Стандартная длина участка измерения: 100 м, с возможностью расширения до 1 км.
2. Увеличение расстояния тестирования и повышение пространственного разрешения приводят к увеличению времени измерений.
Опции1:
| Параметр | Значение |
Ед. Измерения |
|
|---|---|---|---|
| Интерферометрическое измерение задержки2 | |||
| Длинна участка измерения | 50 | 100 | м |
| Погрешность измерений3 | 0,1 | нм | |
| Распределенное измерение деформации и температуры | |||
| Длинна участка измерения | 50 | 100 | м |
| Пространственное разрешение | 5 | мм | |
| Точность деформации | ± 1,0 | με | |
| Точность измерения температуры | ± 0,1 | °C | |
| Диапазон измерения деформации | ± 12000 |
με |
|
| Диапазон измерения температуры4 | -200 - 12000 |
°C |
|
1. Дополнительные функции или усовершенствования доступны в виде модулей обновления и могут потребовать отдельной покупки.
2. Фактической величиной измерения является задержка, а значение длины может быть получено путем ввода показателя преломления.
3. В режиме высокой точности достигается высокая точность измерений.
4. В режиме высокой точности достигается высокая точность измерений.
- Тестирование и анализ параметров волоконных компонентов и световодов.
- Интегральная фотоника, анализ параметров интегральных фотонных схем (ниобат лития, фосфид индия, кремний).
- Тестирование волоконных кабелей и кабельных сборок.
- Диагностика и выявление дефектов в ВОЛС.
- Анализ параметров оптического пути и задержек в ВОЛС.
- Радиофотоника.
