Обновление каталога: новые возможности для анализа лазерного пучка
21.08.2025
Приборы для анализа лазерного пучка, или профайлеры, разработаны для захвата, визуализации и измерения пространственных характеристик лазерного излучения. Представленные в нашем каталоге камеры и щелевые профилометры уже давно зарекомендовали себя как надежные и высокопроизводительные инструменты для диагностики лазерных систем, контроля качества лазерного излучения, а также научных исследований в области фотоники и оптики. Обновленный каталог предлагает еще больше возможностей для анализа характеристик лазерного пучка в широком диапазоне длин волн, мощностей и режимов работы.
Что нового в нашем каталоге камер?
-
Улучшенная чувствительность и динамический диапазон. Современные ПЗС сенсоры обеспечивают повышенную чувствительность к слабому излучению и расширенный динамический диапазон, позволяя анализировать как маломощные лазеры, так и пучки высокой интенсивности без значительных потерь информации.
-
Повышенное разрешение и скорость захвата. Новые модели камер предлагают увеличенное разрешение и скорость захвата кадров, позволяя получать детальные изображения профиля лазерного пучка в режиме реального времени. Это особенно важно для анализа динамически меняющихся лазерных систем и импульсных лазеров.
-
Улучшенная термическая стабильность. Оптимизированная конструкция и система термоэлектрического охлаждения обеспечивают стабильную работу профайлеров в широком диапазоне температур, минимизируя влияние температурных флуктуаций на результаты измерений. Это гарантирует высокую точность и повторяемость результатов в самых разных условиях эксплуатации.
-
Расширенный спектральный диапазон. Доступны модели профайлеров, оптимизированные для работы в различных спектральных диапазонах, от ультрафиолетового до ближнего инфракрасного, что позволяет анализировать лазерные системы, работающие на разных длинах волн.
-
Новые возможности программного обеспечения. Обновленное программное обеспечение включает расширенный набор функций для анализа и обработки данных, включая автоматическое определение параметров пучка, построение 3D-профилей, статистический анализ и экспорт данных в различные форматы.
|
|
SSP-MP-BP | SSP-MS-BP | SSP-CS-BP |
|---|---|---|---|
|
|
|
|
|
| Спектральный диапазон | 340 – 1100 нм | 248 - 1100 нм | 340 – 1750 нм |
| Максимальная мощность | 100/500 Вт | 1 - 5 Вт | 1 Вт |
| Диаметр пучка | 32 мкм - 9,8 мм | 1 мкм - 1 мм | 25 мкм – 11,3 мм |
| Разрешение | до 3,45 мкм | до 500 мкм | до 15 мкм |
|
|
SSP-NIR-BP | SSP-BS-BP | FSA500 | XOA-8407 |
|---|---|---|---|---|
|
|
|
|
|
|
| Спектральный диапазон | 350 - 2100 нм | 190 – 1350 нм | 300 – 1100 нм | 266 нм – 14 мкм |
| Максимальная мощность | 1 Вт | 1 Вт | 100/500 Вт | 1 Вт |
| Диаметр пучка | 50 мкм - 15 мм | 22 мкм – 22,4 мм | 20 мкм – 4,3 мм | 55 мкм – 170 мкм |
| Разрешение | до 15 мкм | до 2,2 мкм | до 2,2 мкм | 5 мкм |
Программный интерфейс камеры
При использовании камеры для анализа лазерного пучка пользователь сначала настраивает положение лазерного источника для получения наилучшего сигнала. После юстировки встроенное программное обеспечение автоматически выполняет измерение и анализ параметров лазерного излучения. Программный интерфейс отображает результаты в виде двумерных и трехмерных графиков, показывающих распределение энергии лазерного луча. Дополнительно отображаются и другие характеристики профиля лазерного пучка, такие как диаметр пучка, угол расходимости, качество пучка и степень эллиптичности.
Таким образом, анализатор лазерного пучка – это незаменимый инструмент для всех применений, где требуется информация о свойствах лазерного пучка. Мы уверены, что новые модели камер помогут нашим заказчикам достичь новых высот в своих исследованиях и разработках.
Компания «Специальные Системы. Фотоника» является официальным дистрибьютором представленных решений и оказывает техническую поддержку на территории России и ЕАЭС.
Для получения дополнительной информацией и оформления заказа вы можете связаться с нашими специалистами, которые помогут подобрать оптимальное решение под ваши задачи.
